锐客网

  1. 首页 > 睿知 > >

pcb edx 元素分析,edx元素分析检出含量

经验分享睿知

为什么EDX检测不出钢中的C元素一般能量色散荧光光谱仪的测量对象主要是中高序数元素，光的测量需要特殊设计元素，因为有C、O等 。元素在空中，考虑到对定量的干扰过大分析和对荧光的吸收，需要在真空环境下测光元素即样品放入后需要专门的气泵抽真空，所以用于测光元素的EDXRF体积较大 ， 一般不便于携带 。

1、EDX为什么检测不出钢铁中的C 元素一般能量色散荧光光谱仪的测量对象以中高序数为主元素，对于光元素因为有C、O等需要特殊设计 。元素在空中 。考虑到定量-，因此，如果要测光元素，就需要一个真空环境，也就是样品放进去后需要一个专门的泵抽真空，所以用于测光元素的EDXRF体积庞大，一般不方便携带 。有人开发了仅具有这一功能的探测器 。据我所知，成都理工大学有一个光的设计的硕士论文元素EDXRF，他也做了样机 。

2、失效 分析的系统方法有一本关于质量管理体系的书 ， 专门介绍了这一章 。故障的系统方法分析:故障可能发生在设计、生产和使用的各个环节，故障分析伴随着整个产品过程 。1.CSAM(超声波扫描显微镜)属于无损检测；检测内容包括:1 。材料内部的晶格结构、杂质颗粒、夹杂物和析出物；2.内部裂缝；3.分层缺陷；4.空洞、气泡、空隙等 。二、X射线(X射线探伤)属于无损探伤:X射线是阴极射线管产生的高能电子与金属靶的碰撞 。在碰撞过程中，由于电子的突然减速，损失的动能会以x射线的形式释放出来 。

3、液体可以做SEM/EDX 分析其中杂质颗粒的 元素吗在国内，一般用钨针尖扫描光滑的固体表面进行SEM，然后得到电压 。在制作一种液体的时候，我认为有以下几个问题:1 。由于对钨的偏压 ， 如果分析的杂志带电或极化，就无法测量(会带电) 。2.如果液体表面被扫过，由于表面张力会被液体吸收 。3.如果在液体内部测试，就要测那些非极性的大杂质粒子，但是很容易损伤针尖，一般只有几个原子 。反正我觉得是测不出来的 。我不知道EDX的情况，但这似乎是可能的 。
【pcb edx 元素分析,edx元素分析检出含量】1固体一般以质量体积分数表示 。例如，准备100mL的10?TA溶液，先称取10g EDTA溶于70 ~ 80ml水中 ， 然后移入100mL容量瓶中，稀释至刻度线，摇匀，液体一般是体积比或体积分数 。液体一般以体积比或体积分数表示，因为液体的体积比便于称量 。

    推荐阅读


    上一篇：小工具用处大教材分析

    下一篇：信号分析 wvd