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tem图像怎么分析,TEM多晶衍射图像分析

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tem是什么tem指的是透射电子显微镜 。如何用imageJ找到TEM 图像中的粒度分布？用ImageJ求TEM 图像中粒度分布的方法:用imageJ打开一张图片，然后选择直线，在条上测量 ， 再选择分析菜单中的SetScale，在KnownDistance中填入条代表的长度 。

1、透射电镜(TEM北京大学电镜室JEM200CX透射电镜对高梯度磁选样品中氧化铁矿物的观察表明，红色风化壳中氧化铁矿物主要有针铁矿、赤铁矿和磁赤铁矿 。在透射电镜下，针铁矿主要以针状或星形存在(图版ⅷ1) 。赤铁矿常呈菱面体、六方片状、椭圆形(图版ⅷ 2、图版ⅷ 3)，[001]晶带轴向电子衍射为图像，衍射斑呈六方对称分布(图版ⅷ 4) 。
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2、如何用imageJ求TEM 图像中的晶粒尺寸分布用ImageJ求TEM 图像中粒度分布的方法:用imageJ打开一张图片，然后选择直线，在条形上测量 ， 然后在分析菜单中选择SetScale，在KnownDistance中填入条形表示的长度 。然后就可以测量了，用直线测量距离，然后按住Ctrl m显示 。ImageJ是基于java的公共图像处理软件 ， 由NationalInstitutesofHealth开发 。

3、 tem和sem区别 tem与sem的区别在于:透射电镜(TEM)可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜(SEM)则限制在1200万倍 。1.不同类型的电子 。透射电镜采集穿过样品的电子，扫描电镜采集样品表面反射的电子并成像 。2.观察到的图像不一样 。透射电镜可以观察到样品的内部结构，但切片后一般只能观察到二维的 。很多厚的不能被电子穿透的样品，只有用扫描电镜才能看到 。

3.成像原理不同 。SEM的成像原理是电子枪产生的电子束经过三个磁透镜形成电子探针 ， 通过透镜聚焦在样品表面 ， 即对样品进行扫描，然后样品表面发出的各种电子被探测器收集并转换成电流信号，经放大后送入显像管转换成图像 。补充信息:扫描电子显微镜(SEM)使用一组特定的线圈以光栅模式扫描样品，并收集散射的电子 。

4、 tem是什么 tem指透射电镜 。透射电镜(简称TEM)可以看到光学显微镜下看不清楚的小于0.2um的微细结构 。这些结构被称为亚微结构或超微结构 。为了看清楚这些结构，我们必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率 。目前TEM的分辨率可以达到0.2nm，电子显微镜和光学显微镜的成像原理基本相同，不同的是前者采用电子束作为光源，电磁场作为透镜 。
这种切片需要用超薄切片机制作 。电子显微镜的放大倍数可达近百万倍，它由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统和电源系统五部分组成，tem: 1的类型 。大型透射电镜:大型透射电镜一般采用80300kV电子束加速电压，不同型号对应不同的电子束加速电压 ， 其分辨率与电子束加速电压有关，可以达到0.20.1nm ， 高端型号可以达到原子级分辨率 。

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